| 儀器名稱： | X射線光電子能譜(XPS) | 廠商： | 英國VG公司 |
| 型號： | MICROLAB MK II | 購進年份： | |
| 聯(lián)系人email： | test@ustbtest.com | 聯(lián)系電話： | (010) 6233 3720 |
| 性能參數(shù)： | 對于塊狀和薄膜試樣直徑不要超過8mm，厚度不要超過3mm；對于粉末試樣，應在烘烤箱內(nèi)烘烤后才能測試。 | ||
| 功能用途： | 主要用于固體樣品表面的組成、化學狀態(tài)分析。能進行定性、半定量及價態(tài)分析。廣泛應用于聚合物、無機化合物、有機化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料的研究。 | ||
