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將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。相襯顯微鏡即相差顯微鏡。利用物體不同結(jié)構(gòu)成分之間的折射率和厚度的差別,把通過物體不同部分的光程差轉(zhuǎn)變?yōu)檎穹ü鈴?qiáng)度)的差別,經(jīng)過帶有環(huán)狀光闌的聚光鏡和帶有相位片的相差物鏡實(shí)現(xiàn)觀測的顯微鏡。主要用于觀察活細(xì)胞或不染色的組織切片,有時(shí)也可用于觀察缺少反差的染色樣品。