儀器名稱: | TTRⅢ多功能X射線衍射儀 | 廠商: | 日本理學(xué)公司 |
型號: | TTRⅢ | 購進(jìn)年份: | |
聯(lián)系人email: | test@ustbtc.com | 聯(lián)系電話: | (010) 6233 3720 |
性能參數(shù): |
1.X射線發(fā)生器 最大額定輸出功率: 18KW 管電壓: 20-60kV(穩(wěn)定度<+0.01%) 管電流: 10-300mA 靶材: Cu 焦點尺寸: 0.5mm x 10mm 2.測角儀 垂直式θ/θ測角儀,樣品水平放置不動 控制方式: θs/θd連動和θs/θd單動 測角儀半徑: 285mm 測量范圍(2θ):-10~154° 最小步長和重復(fù)性: 1°/10000 掃描速度(2θ): 0.0002~100°/分 掃描方式:連續(xù)掃描/步進(jìn)掃描 單色器:石墨晶體 3.計數(shù)器 閃爍計數(shù)器S.C. 線性計數(shù):70萬cps 最大計數(shù):100萬cps 4.多層膜反射鏡 使用波長:CuKα 出射角度:≤0.06°(普通5°) Kα:Kβ:≥99.5% 聚焦光路和平行光路自動切換 |
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功能用途: | TTRⅢ多功能X射線衍射儀是日本理學(xué)公司最新推出的一款集粉末衍射、應(yīng)力和極圖分析、小角散射、薄膜分析等為一體的旗艦級X射線分析設(shè)備,可以進(jìn)行材料的物相鑒定及定量分析;原子排列與占位分析;納米材料的晶粒度和顆粒度測定;應(yīng)力、織構(gòu)、取向度和結(jié)晶度的測定;薄膜物相及物性分析等。 |